高低溫試驗(yàn)箱是模擬自然界高溫低溫的環(huán)境試驗(yàn),廣泛適用于電工、電子產(chǎn)品、元器件、零部件及其材料在高低溫環(huán)境下儲(chǔ)存、運(yùn)輸和使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)，以及溫度漸變?cè)囼?yàn)。還可以對(duì)電子元器件進(jìn)行應(yīng)力篩選試驗(yàn)。
特別是電氣性能個(gè)機(jī)械性能的變化.具有較大的溫度控制范圍.
設(shè)備執(zhí)行參照標(biāo)準(zhǔn):GB/T2423.1-2001、GB/T2423.2-2001《電工電子產(chǎn)品的基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法、試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法》對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行高溫及低溫試驗(yàn)。 GB/T10592-2008；GB/T10589-1989；GB/T11158-1989；IEC68-2-1；IEC68-2-2；
高低溫試驗(yàn)箱采用先進(jìn)的控溫方式，平衡式溫度調(diào)節(jié)方式，由低溫到高溫時(shí)的可靠、的試驗(yàn)溫度。
杭州奧科環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備有限公司
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