第一種方法是“試驗(yàn)——改進(jìn)——再試驗(yàn)”模式。該方法就是把初步研制的產(chǎn)品，通過(guò)試驗(yàn)，暴露產(chǎn)品的薄弱環(huán)節(jié)，分析產(chǎn)品的失效模式和失效機(jī)理，找出問(wèn)題就立即改進(jìn)，然后再試驗(yàn)證實(shí)所解決的問(wèn)題，使產(chǎn)品的可靠性得到增長(zhǎng)。這種方法在電子產(chǎn)品的研制階段，通過(guò)系統(tǒng)試驗(yàn)，暴露出產(chǎn)品薄弱環(huán)節(jié)之后，根據(jù)具體情況，立即進(jìn)行必要的改進(jìn)是能夠使產(chǎn)品的可靠性有大幅度的增長(zhǎng)，這種方法比較適用于試驗(yàn)中只出現(xiàn)一種比較普遍和嚴(yán)重問(wèn)題的情況，針對(duì)性較強(qiáng)。
第二種方法是“試驗(yàn)——問(wèn)題記錄——再試驗(yàn)”模式。該方法就是把初步研制的產(chǎn)品，通過(guò)試驗(yàn)發(fā)現(xiàn)問(wèn)題時(shí)，不是立即進(jìn)行改進(jìn)，而是把問(wèn)題記錄下來(lái)，待在一個(gè)試驗(yàn)階段結(jié)束以及下一個(gè)階段開始之前，根據(jù)各種失效模式的失效機(jī)理，集中地進(jìn)行改進(jìn)，然后再進(jìn)行試驗(yàn)。采用這種試驗(yàn)法，產(chǎn)品可靠性將有較大的躍進(jìn)。這種試驗(yàn)法，比較適用于一批試驗(yàn)機(jī)中，出現(xiàn)幾個(gè)問(wèn)題，其中一種問(wèn)題是占主要地位而其余問(wèn)題是次要的情況。
第三種方法是“含延緩改進(jìn)的試驗(yàn)——改進(jìn)——再試驗(yàn)”模式。該方法是將方法一和方法二結(jié)合起來(lái)，通過(guò)試驗(yàn)發(fā)現(xiàn)了產(chǎn)品的問(wèn)題，有些改進(jìn)在試驗(yàn)中了產(chǎn)品的問(wèn)題，有些改進(jìn)在試驗(yàn)中立即著手進(jìn)行，有些延緩到試驗(yàn)結(jié)束后再作改進(jìn)。在試驗(yàn)中，對(duì)能及時(shí)改進(jìn)的問(wèn)題，立即采取措施改進(jìn)產(chǎn)品，提高可靠性，在試驗(yàn)階段結(jié)束后，把延緩的問(wèn)題至下次試驗(yàn)開始前進(jìn)行改進(jìn)，然后再進(jìn)行試驗(yàn)，使產(chǎn)品的可靠性得到較大的增長(zhǎng)。這種方法比較適合于試驗(yàn)中出現(xiàn)幾種問(wèn)題，并且一些問(wèn)題能短期容易改進(jìn)的，另一些問(wèn)題卻需要相當(dāng)一段時(shí)間才能改進(jìn)的綜合情況。
電子產(chǎn)品的可靠性十分重要，是產(chǎn)品質(zhì)量的主要指標(biāo)。我國(guó)的一些電子產(chǎn)品的可靠性指標(biāo)比較先進(jìn)標(biāo)準(zhǔn)還有差距，因此必須對(duì)國(guó)內(nèi)外相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行充分研究，真正從產(chǎn)品方案的論證、設(shè)計(jì)、生產(chǎn)、試驗(yàn)和使用全過(guò)程中對(duì)可靠性水平作出準(zhǔn)確的評(píng)價(jià)，從而大大提高我國(guó)電子產(chǎn)品的可靠性水平，使產(chǎn)品質(zhì)量達(dá)到*水平。
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